芯片功能测试常用5种方法有板级测试、晶圆CP测试、封装后成品FT测试、系
2023-06-09 16:25
本文的设计是基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试。由于FPGA芯片价格的不断下降和低端芯片的不断出现，使用FPGA作为
2021-04-30 06:13
作者：王烈洋 黄小虎 占连样 珠海欧比特控制工程股份有限公司随着电子技术的飞速发展， 存储器的种类日益繁多，每一种存储器都有其独有的操作时序，为了提高存储器芯片的测试效率，一种多功能存储器
2019-07-26 06:53
主要分三大类：芯片功能测试、性能测试、可靠性测试，芯片产品要上市三大
2021-01-29 16:13
请教大虾，第一次用这个芯片，自己买了几片回来测试。如图测试条件，INH和IN端都是用直流电源供电，测试短路保护功能，OU
2016-10-08 10:15
%的成本能代表的。芯片需要做哪些测试呢？主要分三大类：芯片功能测试、性能测试
2020-09-02 18:07
NSAT-2000电子元器件自动测试系统，正是可以对AD芯片/DA芯片进行自动化的测试。 芯片需要做哪些
2020-12-29 16:22
芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第二章。我们在第一章介绍了
2012-01-11 10:36
FT测试，英文全称Final Test，是芯片出厂前的最后一道拦截。测试对象是针对封装好的chip，对封装好了的每一个chip进行测试，是为了把坏的chip挑出来，检验
2023-08-01 15:34
1、M487芯片CRYPTO模块中对称加密AES功能测试本次测评主要测试新唐M487芯片CRYPTO模块中对称加密AES
2022-04-22 17:52
