本文的设计是基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试。由于FPGA芯片价格的不断下降和低端芯片的不断出现，使用FPGA作为
2021-04-30 06:13
FT测试，英文全称Final Test，是芯片出厂前的最后一道拦截。测试对象是针对封装好的chip，对封装好了的每一个chip进行测试，是为了把坏的chip挑出来，检验
2023-08-01 15:34
芯片功能测试常用5种方法有板级测试、晶圆CP测试、封装后成品FT测试、系
2023-06-09 16:25
请教大虾，第一次用这个芯片，自己买了几片回来测试。如图测试条件，INH和IN端都是用直流电源供电，测试短路保护功能，OU
2016-10-08 10:15
请问为什么SoC的发展能够将测试与测量设备带入芯片领域？
2021-04-15 06:02
最近在做一个奇葩的测试有个设备内部是USB转串口的芯片(不需要装驱动会出来一个COM口)现在我想用MCU的UART和这个设备通讯,请问有什么
2022-09-30 07:12
介绍目前，非信令技术正方兴未艾，主要用于缩减制造测试时间和成本，并且适用于广泛的技术。芯片组厂商正在想方设法为手机制造商提供此类能力。因此开发针对特定芯片组的专用测试模
2019-09-27 07:07
是否会使整个板卡电流过大或者温度过高，甚至击穿起火！ 3.办卡所搭载的装置是一种测试设备，该板卡用于拓展EPA通讯功能，设备比较重要。 4.图一电源
2024-10-14 15:22
作者：王烈洋 黄小虎 占连样 珠海欧比特控制工程股份有限公司随着电子技术的飞速发展， 存储器的种类日益繁多，每一种存储器都有其独有的操作时序，为了提高存储器芯片的测试效率，一种多功能存储器
2019-07-26 06:53
这种系统复杂性不会影响设备的功能。LitePoint公司推出的IQn×n测试系统具有软硬件相结合的矢量信号生成与分析功能，大大简化了基于MIMO
2019-06-04 06:47
