芯片功能测试常用5种方法有板级测试、晶圆CP测试、封装后成品FT
2023-06-09 16:25
请教大虾，第一次用这个芯片，自己买了几片回来测试。如图测试条件，INH和IN端都是用直流电源供电，测试短路保护功能，OU
2016-10-08 10:15
本文的设计是基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试。由于FPGA芯片价格的不断下降和低端芯片的不断出现，使用FPGA作为
2021-04-30 06:13
基于扫描的DFT方法扫描设计的基本原理是什么？扫描设计测试的实现过程是怎样的？基于扫描的DFT对芯片测试的影响有哪些？
2021-05-06 09:56
作者：王烈洋 黄小虎 占连样 珠海欧比特控制工程股份有限公司随着电子技术的飞速发展， 存储器的种类日益繁多，每一种存储器都有其独有的操作时序，为了提高存储器芯片的测试效率，一种多功能存储器
2019-07-26 06:53
随着嵌入式系统的发展，迫切需要在嵌入式系统开发阶段对嵌入式系统进行离线测试与分析，以保证系统的软件应用程序、硬件具有兼容性、高可靠性和高可用性，迅速发现并准确定位系统中存在的问题。本文结合上海贝尔阿尔卡特股份有限公司开发的宽带交换系统，讨论离线单板硬件测试
2019-07-05 07:24
射频收发信机的测试是检验经过校准后的终端基本功能和射频性能的环节。一般来说，终端射频收发信机的测试遵从相应的通信标准规范，规范中对测试原理、
2019-06-05 06:17
高速数字设计和测试综述高质量的信号生成电源完整性测试物联网技术中几种典型芯片NB-IOT的测试方法
2021-01-12 07:15
FT测试，英文全称Final Test，是芯片出厂前的最后一道拦截。测试对象是针对封装好的chip，对封装好了的每一个chip进行测试，是为了把坏的chip挑出来，检验
2023-08-01 15:34
离线单板硬件测试方法有哪些？嵌入式系统离线测试方法有哪些？
2021-04-23 07:22
