芯片功能测试常用5种方法有板级测试、晶圆CP测试、封装后成品FT
2023-06-09 16:25
作者：王烈洋 黄小虎 占连样 珠海欧比特控制工程股份有限公司随着电子技术的飞速发展， 存储器的种类日益繁多，每一种存储器都有其独有的操作时序，为了提高存储器芯片的测试效率，一种多功能存储器
2019-07-26 06:53
请教大虾，第一次用这个芯片，自己买了几片回来测试。如图测试条件，INH和IN端都是用直流电源供电，测试短路保护功能，OU
2016-10-08 10:15
模块电源功能性参数指标及测试方法
2013-03-04 15:41
本文的设计是基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试。由于FPGA芯片价格的不断下降和低端芯片的不断出现，使用FPGA作为
2021-04-30 06:13
原理为了防止ESD损伤芯片，一般芯片内部各个引脚（除GND pin 或NC pin 外）都有对地二极管，简单的等效电路如下图所示：利用二极管的正向导通性测试芯片各引脚二
2022-01-18 09:30
主要分三大类：芯片功能测试、性能测试、可靠性测试，芯片产品要上市三大
2021-01-29 16:13
明确测试对象，测试对象的开发文档及相关介绍。测试的功能点范围，测试的目的，以及测
2022-06-28 18:14
%的成本能代表的。芯片需要做哪些测试呢？主要分三大类：芯片功能测试、性能测试
2020-09-02 18:07
/sunxi/OKT507-C-Common.dtsi3.6 音频引脚路径如下：vi OKT507-linux-sdk/kernel/linux-4.9/arch/arm64/boot/dts/sunxi/OKT507-C-Common.dtsi以上就是OKT507-C开发板去掉IO扩展芯片后保留扩展引脚
2022-07-11 15:21
