电学测试是芯片测试的一个重要环节，用来描述和评估芯片的电性能、稳定性和可靠性。芯片电学
2023-10-26 15:34
线性NTC温度传感器电气参数及测试条件
2006-06-30 19:47
本文介绍如何利用先进的测试平台来对ADSL芯片的某些关键参数进行测试，从而使半导体制造商能够降低ADSL器件的
2011-11-21 17:49
芯片在行内被称为集成电路，芯片制造环节一般也采用外协形式完成，芯片的构装是将单个的晶粒固定在塑胶或陶瓷制的芯片基座上，最
2021-12-30 11:01
SOC（System on Chip，芯片上的系统）芯片的测试是一个复杂且全面的过程，涉及多个参数和模块。以下是对SOC芯片
2024-09-23 10:13
芯片封测技术（Chip Packaging and Testing）是指在芯片制造完毕后，将裸芯片封装为可供使用的封装芯片
2023-08-23 15:04
芯片制造的整个过程包括芯片设计、芯片制造、封装制造、
2021-12-25 11:32
本文结合ADC的静态和动态测试原理，给出了基于测试系统的ADC静态参数和动态参数测试的一般过程，并对此过程
2017-11-06 13:06
非信令（Non-signaling）测试方案市场渗透率急速攀升。中国移动为实现全球漫游，计划于2013年底推出5模13频智能手机，可望带动用于产线的非信令测试方案需求迅速增温，以大幅缩短智能手机的测试时间，助力智能手
2013-12-25 09:55
