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型号：IC<b class='flag-s-7'>芯片</b>开封试验 品牌：广电计量

开封以及机械开封等检测方法。结合OM,X-RAY等设备分析判断样品的异常点位和失效的可能原因。服务范围IC芯片半导体检测标准GB/T 37045-2018 信息技

2024-03-14 10:03 广电计量 企业号

型号：率器件<b class='flag-s-7'>失效</b>根因分析 品牌：广电计量

基本介绍功率器件可靠性是器件厂商和应用方除性能参数外最为关注的，也是特性参数测试无法评估的，失效分析则是分析器件封装缺陷、提升器件封装水平和应用可靠性的基础。广电计量拥有业界领先的专家团队及先进

2024-03-13 16:26 广电计量 企业号

型号：电子元器件<b class='flag-s-7'>失效</b>分析 品牌：广电计量

服务范围IGBT、IC集成电路、微机电器件检测标准GJB548微电子器件试验方法和程序检测项目（1）常见检测项⽬：3DX 射线检查、声学扫描检查、开封、IC 取芯片、芯片去层

2024-03-15 17:34 广电计量 企业号

型号：IC<b class='flag-s-7'>芯片</b>开封试验 品牌：广电计量

开封以及机械开封等检测方法。结合OM,X-RAY等设备分析判断样品的异常点位和失效的可能原因。服务范围IC芯片半导体检测标准GB/T 37045-2018 信息技

2024-01-29 21:57 广电计量 企业号

型号：DSC 品牌：广电计量

服务介绍随着工业生产的迅速发展，客户对高要求产品及工艺理解不一，导致产品的开裂、断裂、腐蚀、变色等失效频繁出现。企业需要分析产品失效的根本原因及机理，从而改进产品工艺，提升产品质量。 测试

2022-05-25 11:34 广电计量 企业号

型号：大规模集成电路<b class='flag-s-7'>芯片</b> 品牌：广电计量

、ATE 测试与三温(常温/低温/⾼温)验证。（3）破坏性分析：塑料开封、去层、板级切片、芯片级切片、推拉力测试。（4）微观显微分析：DB FIB 

2024-03-14 16:12 广电计量 企业号

型号：LED<b class='flag-s-7'>失效</b>分析 品牌：广电计量

服务范围LED芯片、LED支架、LED封装胶、银浆、键合线、LED灯珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED灯具、灯具驱动电源。检测标准● GB/T15651-1995半导体器件分立器件

2024-03-15 09:23 广电计量 企业号

型号：ATS-535 品牌：

芯片…), 功率模块, 功率集成电路, 智能传感器等芯片研发提供高低温测试解决方案. inTEST 热流仪inTEST ATS-535 高低温冲击热流仪优

2024-10-18 13:59 伯东企业（上海）有限公司 企业号

型号：功率器件<b class='flag-s-7'>失效</b>根因分析 品牌：广电计量

; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求检测项目试验类型试验项⽬⽆损分析X 射线透视、声学扫描显微镜、⾦相显微镜电特性/电性定位分析电参数测试、IV&a

2024-01-29 22:40 广电计量 企业号

型号：AEC-Q104认证测试 品牌：广电计量

AEC-Q104认证测试广电计量AEC-Q104测试能力提供全套的测试认证服务，通过使用各种测试分析技术和分析程序确认产品的失效现象，分辨其失效模式或机理，确定其最终原因，提出改进设计和制造工艺

2024-01-29 21:47 广电计量 企业号