纳米材料/纳米电子器件电学测试面临的挑战1、纳米级尺寸性能不同于宏尺寸材料与器件状态变化快,对测试仪器响应速度有要求2、测试信号微弱多在样品研发阶段单位面积产生的电压/电流的微弱信号电流信号nA甚至pA级,对设备的微弱信号检测能力要求高3、外部噪声干扰需要降低外部噪声影响,屏蔽滤波,无干扰降低热电噪声,材质、温度适当的连接方式:四线制,降低线损压
2024-09-12 15:05 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号
利用源表SMU可以灵活的进行电阻测量 I-V测试是对待测器件(DUT)施加电压或电流,然后测试其对激励做出的响应。根据待测器件(DUT
2024-06-06 15:43 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号