C-V特性),C-V 曲线测试可以方便的确定二氧化硅层厚度dox、衬底掺杂浓度N、氧化层中可动电荷面密度Q1、和固定电荷面密度Qfc等参数。 ●&nbs
2024-06-05 11:16 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号
可以用于研究半导体材料中非线性载流子的动力学过程,以及太赫兹电场加速自由电子等众多方向。上海屹持推出的强场太赫兹时域光谱仪系统基于飞秒再生放大器系统,可以产生高达
2023-03-15 13:46 上海屹持光电技术有限公司 企业号
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2023-10-28 13:12 杭州长牛科技有限公司 企业号
AD7911ARMZ 特性吞吐量:250 kSPS额定电压(VDD):2.35 V至5.25 V低功耗: 4 mW(典型值,250 kSPS、3 V电源) 13.5 mW(典型值,250 kSPS
2024-03-25 11:29 深圳市华沣恒霖电子科技有限公司 企业号
Lytid高通用性实时太赫兹成像系统TeraEyes-HVTeraEyes-HV是一款高通用性实时太赫兹成像系统,适用于全场高分辨率应用。TeraEyes-HV基于Ly
2024-07-18 10:15 上海屹持光电技术有限公司 企业号