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    2024-03-14 21:23

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    元件 位每元件 Output 8-SSOP

    2024-04-24 19:46

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    摘 要:提出了一种采用内PLL实现实扫描测试的方案。在该方案中,移入测试向量时使用测试仪提供的时钟,激励施加和响应捕获采用内PLL生成的高速时钟,从而降低了实

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    2023-03-24 14:58

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    2023-03-24 14:58

  • 74HCT2G17GW,125

    缓冲器,非反向 2 元件 1 位每元件 推挽式 Output 6-TSSOP

    2023-03-24 14:58

  • 74HCT3G34DC,125

    缓冲器,非反向 3 元件 1 位每元件 推挽式 Output 8-VSSOP

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  • 74HC7540D,118

    缓冲器,反向 1 元件 8 位每元件 三态 Output 20-SO

    2023-03-24 14:58

  • 74LVT125D,118

    缓冲器,非反向 4 元件 1 位每元件 三态 Output 14-SO

    2023-03-24 14:59