for Testability8. Boundary Scan9. Built-In Self-Test10. IDDQ Testing清华大学芯片测试讲义pdf[hide][/hide]
2011-11-29 16:30
清华版教程
2012-07-06 11:34
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2013-05-01 20:21
清华labview
2012-10-24 17:36
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2012-08-26 11:07
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2017-01-10 18:02
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2015-07-13 18:12
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2021-07-23 09:19
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2012-12-13 20:09
