电子发烧友

为什么需要芯片静态功耗测试？如何使用芯片测试工具测试芯片静态功耗？

2023-11-10 15:36

这是芯片在设计过程中的一个环节，主要通过EDA（电子设计自动化）工具进行仿真检验。它的主要目的是在芯片生产之前，验证芯片设计是否符合预定的需求规格，是否已经消除了所有的风险，发现并更正了所有的缺陷。这是一种防范于未然

2024-05-08 16:52

VTM 支持高开关频率，因而支持极高的功率密度，是非常小巧的轻量级组件。这是用来减轻测试头重量的主要组件。VTM 极高的效率不仅降低了测试头上所生成的热量，而且还确保满足了这种环境下所需的高可靠性及平均故障间隔时间 (MTBF) 值要求。

2022-05-06 15:56

如何用集成电路芯片测试系统测试芯片老化？ 集成电路芯片老化测试系统是一种

2023-11-10 15:29

赛灵思、Arm、Cadence和台积公司今日宣布计划在 2018 年交付 7 纳米 FinFET 工艺芯片。这一测试芯片旨在从硅芯片层面证明 CCIX 能够支持多核高性

2017-09-25 11:20

WAT需要标注出测试未通过的裸片（die），只需要封装测试通过的die。 FT是测试已经封装好的芯片（chip），不合格品检出。WAT和FT很多项目是重复的，FT

2024-04-17 11:37

英特尔研究院便完成了Loihi测试芯片的制造和封装，并已经开始对其进行开机和验证。我们很高兴地发现，测试芯片总体可以发挥100%的功能，有充足的运行空间和极少量的缺陷。

2018-03-09 07:38

瑞萨电子开发了一种新的内存处理器 (PIM) 技术，用于在低功耗边缘设备中加速 AI 推理。用于基于 SRAM 技术的测试芯片实现了 8.8 TOPS/W 的运行卷积神经网络 (CNN) 工作负载

2022-07-21 15:50

    创意电子(Global Unichip)日前发布首颗提供二组高级高速总线(AHB)输入输出接口的ARM926EJ测试芯片UTM0034A。据称，与市场其它ARM

2006-03-13 13:00