在测试准备阶段,需要对测试环境、测试数据和测试设备进行准备。同时需要对测试方案进行评估和修订,以确保
2024-05-08 16:55
近期不少客户咨询,如何测试封装IC类样品的热特性,以及结温与封装热阻的测量。在本文中,将结合集成电路热测试标准和载板设计标准向大家介绍如何用T3Ster瞬态热阻
2023-04-03 15:46
CSP封装的芯片测试,由于其封装较小,采用普通的机械手测试无法实现,目前主要采用类似晶圆测试的方法,在芯片完成置球
2017-10-27 15:11
详解半导体封装测试工艺
2023-05-31 09:42
芯片封装测试的流程你了解吗IC封装工艺详细PPT简介
2019-05-12 09:56
芯片硬件成本包括晶片成本+掩膜成本+测试成本+封装成本四部分(像ARM阵营的IC设计公司要支付给ARM设计研发费以及每一片芯片的版税,但笔者这里主要描述自主CPU和Intel这样的巨头,将购买IP的成本省去),而且还要除去那些
2017-11-30 17:44
本文浅析SOP8封装LM358运算放大器的测试,探讨了关键参数的测试电路设计和测试方法,在QT8100测试平台上实现LM
2017-12-12 09:22
CP最大的目的就是确保在芯片封装前,尽可能地把坏的芯片筛选出来以节约封装费用。所以基于这个认识,在CP测试阶段,尽可能只选择那些对良率影响较大的测试项目,一些
2017-10-27 15:17