测试向量及其生成 测试向量（Test Vector）的一个基本定义是：测试向量
2023-10-30 11:23
DFT 团队可能花费数年时间建立 ATPG 目标——可能包括覆盖率目标、向量大小或其他一些指标——但仅适用于定值型和转态型故障模型。当引入新的重要故障模型时，需要针对新的工艺节点调整目标。
2022-10-25 12:11
新思第二代TetraMAX II测试工具采用的新型ATPG引擎将运行时速度提高至少一个数量级，一个大型SoC样片的验证测试时间从过去的数天降低到数小时，划时代的里程碑式进步，不仅大幅降低了测试成本，而且还将
2016-07-22 09:07
IC测试主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。
2023-11-01 15:35
本文通过对一种控制芯片的测试，证明通过采用插入扫描链和自动测试向量生成(ATPG)技术，可有效地简化电路的测试，提高芯片的测
2010-09-02 10:22
对数字IC，采用Vector（向量）测试。向量测试类似于真值表测量，激励输入向量，测量输出
2022-09-07 10:01
检测到测试者没有想到的一些系统缺陷带约束的随机测试激励是指在产生随机测试向量时施加一定的约束，使所产生的随机测试
2022-11-29 16:15
尽管业界广泛采用IJTAG（IEEE 1687）测试架构进行芯片级测试，但很多公司在芯片级测试向量转换，以及自动测试设备
2019-10-11 15:36
该系统利用计算机并行端口，通过适配器发送、接收测试向量，然后对采集数据进行分析，显示测试结果。
2019-09-11 17:47
