测试向量及其生成 测试向量（Test Vector）的一个基本定义是：测试向量
2023-10-30 11:23
越来越困难。因此，研究和发展IC测试，有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。 1、IC测
2017-10-20 09:57
随着设计复杂度的迅速增长，集成电路的测试已成为阻碍其发展的重要因素，如何尽可能自动生成可以满足测试覆盖率的测试向量是这一问题的关键所在。本文在对
2010-01-27 14:10
时序电路测试生成算法产生的向量存在冗余。针对此问题提出一种压缩算法，减少测试序列的总长度，从而减少了仿真的时间和ATE 设备的测试的时间，加速了
2009-08-29 11:00
参考设计方案到整机开发的全方位支持，真正为中国电子信息产业提供底层技术驱动和支持。下面介绍的是关于灵动微ARM Cortex内核测试向量生成的相关技术
2020-12-15 07:00
你好， 我想编写一个程序来测试向量的值。 是有另一个更简单的解决方案?? GPIO_DeInit（GPIOB）;GPIO_Init（GPIOB，GPIO_PIN_0
2019-07-10 06:54
DFT 团队可能花费数年时间建立 ATPG 目标——可能包括覆盖率目标、向量大小或其他一些指标——但仅适用于定值型和转态型故障模型。当引入新的重要故障模型时，需要针对新的工艺节点调整目标。
2022-10-25 12:11
新思第二代TetraMAX II测试工具采用的新型ATPG引擎将运行时速度提高至少一个数量级，一个大型SoC样片的验证测试时间从过去的数天降低到数小时，划时代的里程碑式进步，不仅大幅降低了测试成本，而且还将
2016-07-22 09:07
提出一种更优化的测试向量生成算法，并将此算法运用于测试程序产生测试图形序列。这些测试图形序列不仅易于产生，而且有短的
2021-04-20 07:02
