的设计者在设计的最初阶段就必须考虑芯片的工程样片测试和产品测试手段，以便缩短芯片上市时间，并在满足产品成品率的测试覆盖率的前提下，尽量降低芯片的产品测试成本。现有的可测
2011-12-12 17:58
能提供统一的施加测试信号的功能，而且也能支持所有的测试情况（芯片测试、组件测试、PCB测试、PCB上芯片的测试、MCM测试、模块测试以及系统诊断等）。边界扫描机制提供了一种完整的、标准化的可测试
2018-09-19 16:17
高频锁相环的可测性设计 可测性设计（Design for Test，DFT）最早用于数字电路设计。随着模拟电路的发展和
2010-01-04 12:47
随着半导体技术的飞速发展，系统级芯片（SoC）设计已成为现代电子设备中的主流。在SoC设计中，可测试性设计（DFT）已成为不可或缺的环节。DFT旨在提高芯片测试的效率和
2023-09-02 09:50
可测性设计（Design for Test，DFT）最早用于数字电路设计。随着模拟电路的发展和芯片 集成度的提高，单芯片
2008-08-15 12:37
充分考虑。 三、PCB可制造性设计 含有CPU芯片的PCB设计需要考虑制造的可行性以及成本效益，一般需要考虑以下几个方面： PCB层次结构的设计 一般而言，含有CPU
2023-05-30 19:52
本文采用基于扫描路径法的可测性设计技术，对一款约750万门级雷达芯片的实际电路进行可测性设计。在设计中通过使用时钟复用技
2020-12-11 10:04
实物的元件库评估DDR芯片的可焊性。 这里推荐一款一款可制造性检查的工艺软件： 华秋DFM ，对于DDR
2023-12-25 14:02
实物的元件库评估DDR芯片的可焊性。 这里推荐一款一款可制造性检查的工艺软件： 华秋DFM ，对于DDR
2023-12-25 13:58
dft可测试性设计，前言可测试性设计方法之一：扫描设计方法可测试性设计方
2021-07-22 09:10
