图1.传统构型光谱椭偏仪(a)和基于超构表面阵列的光谱椭偏仪(b)系统示
2024-04-28 06:35
在半导体芯片和光学元件加工等应用中，精确测量薄膜的厚度和折射率至关重要。光谱椭偏仪是一种被广泛应用于测量薄膜厚度和折射率的仪器。
2024-04-19 09:17
本视频主要介绍了半导体测试设备，分别有椭偏仪、四探针、热波系统、相干探测显微镜、光学显微镜以及扫描电子显微镜。
2018-11-02 16:39
半导体应用，包括光谱椭圆光度术。 椭偏仪简介 光谱椭圆光度术是一种用于检查纳米级材料的无损计量方法，对于确定薄膜基板的厚度以及质量监控和缺陷分析特别有用。该技术至少可以追溯到 1886 年，当时德国物理学家
2025-04-22 06:11
德国欧库睿因公司(Accurion GmbH)。德国欧库睿因公司是一家研发并制造成像椭偏仪和主动隔振器的私营公司。此次收购优化了park原子力显微镜和白光干涉显微镜联用技术。 欧库睿因公司总部位于德国哥廷根，是成像椭
2022-09-07 14:49
。以下是部分现有产品。 一：光谱仪 光谱技术在光学测量（椭偏仪、膜厚仪）、等离子刻蚀工艺检测（等离子状态监测、刻蚀终点监
2023-03-20 16:54
等多个方面。椭偏仪就像一位精准的测量大师，能够精确地测量薄膜的厚度。X 射线衍射仪则可以洞察薄膜的内部结构，分析其结晶状态，从而为评估薄膜的致密性提供有力依据。扫描电子
2024-11-22 10:35
地测量薄膜的折射率和厚度。其精度可与椭偏仪进行比较。优化此方法可精确测量薄膜各点的性能指标，适用于吸收薄膜 RF-LAMBDA是全球领先的射频、微波和毫米波设备制造商。RF-LAMBDA产品线按照美国军用标准设计制造
2021-11-08 09:30
的计量的新技术新产品的开发。其纳米计量系统（包括 AFM 和椭偏仪）被半导体、电子、材料科学、生命科学等众多行业的研究人
2024-03-20 16:04
偏摆检查仪是精密的检测仪器，操作者必需熟练掌握仪器的操作技能，精心地维护保养，并指定专人使用。
2020-05-13 16:21
