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在半导体、光学镀膜及新能源材料等领域,精确测量薄膜厚度和光学常数是材料表征的关键步骤。Flexfilm光谱椭偏仪(SpectroscopicEllipsometry,SE)作为一种非接触、非破坏性
2025-07-22 09:54 Flexfilm 企业号
在半导体芯片制造中,薄膜厚度的精确测量是确保器件性能的关键环节。随着工艺节点进入纳米级,单颗芯片上可能需要堆叠上百层薄膜,且每层厚度仅几纳米至几十纳米。光谱椭偏仪因其非接触、高精度和快速测量的特性
椭偏仪作为表征光学薄膜性能的核心工具,在光学薄膜领域具有不可替代的作用。本研究聚焦基底类型(K9玻璃、石英玻璃、单晶硅)对溶胶-凝胶法制备的TiO₂和SiO₂薄膜光学性能的调控机制。Flexfilm
2025-07-22 09:51 Flexfilm 企业号
被广泛采用。Flexfilm全光谱椭偏仪不仅能够满足工业生产中对薄膜厚度和光学性质的高精度测量需求,还能为科研人员提供丰富的光谱信息,助力新材料的研发和应用。1光
过渡金属二硫族化合物(TMDs)因其独特的激子效应、高折射率和显著的光学各向异性,在纳米光子学领域展现出巨大潜力。本研究采用Flexfilm全光谱椭偏仪结合机械剥离技术,系统测量了多种多层TMD薄膜
2025-07-21 18:17 Flexfilm 企业号
有机发光二极管(OLED)的喷墨印刷技术因其材料利用率高、可大面积加工等优势成为产业焦点,但多层溶液加工存在根本性挑战:层间互溶与咖啡环效应引发薄膜不均匀导致器件性能下降。本文提出一种基于二元溶剂(环己酮/环己基苯)和可热交联空穴传输材料VNPB构建稳定界面,首次实现空穴注入层(HIL)、空穴传输层(HTL)、发光层(EML)全喷墨印刷,为高性能溶液加工OL
生物聚合物薄膜(如纤维素、甲壳素、木质素)因其可调控的吸水性、结晶度和光学特性,在涂层、传感器和生物界面模型等领域应用广泛。薄膜厚度是决定其性能的关键参数,例如溶胀行为、分子吸附和光学响应。然而,生物聚合物的高亲水性、软质结构及表面异质性使厚度精确测定面临挑战。本文系统总结了现有测定技术,以纤维素为代表性案例,探讨方法优势与局限性。近年来,Flexfilm全
2025-07-22 09:53 Flexfilm 企业号
检测需求。本文聚焦光学表征技术的革新,重点阐述椭偏仪等光学方法在大面积薄膜映射与成像中的突破性应用。其中,Flexfilm全光谱椭
纳米级三台阶高度样本(8nm/18nm/26nm)的高精度测量。并应用于薄膜沉积速率的计算与验证,结果显示轮廓仪与光谱椭偏仪的沉积速率测量结果一致。1触针轮廓
2025-07-22 09:52 Flexfilm 企业号
在半导体和显示器件制造中,薄膜与基底的厚度精度直接影响器件性能。现有的测量技术包括光谱椭偏仪(SE)和光谱反射仪(SR)用于薄膜厚度的测量,以及低相干干涉法(LCI)、