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在半导体、光学镀膜及新能源材料等领域，精确测量薄膜厚度和光学常数是材料表征的关键步骤。Flexfilm光谱椭偏仪（SpectroscopicEllipsometry,SE）作为一种非接触、非破坏性
2025-07-22 09:54 Flexfilm 企业号
椭偏仪是一种基于椭圆偏振分析的光学测量仪器，通过探测偏振光与样品相互作用后偏振态的变化，获取材料的光学常数和结构信息。Flexfilm全光谱椭
2025-09-26 18:04 Flexfilm 企业号
在半导体芯片制造中，薄膜厚度的精确测量是确保器件性能的关键环节。随着工艺节点进入纳米级，单颗芯片上可能需要堆叠上百层薄膜，且每层厚度仅几纳米至几十纳米。光谱椭偏仪因其非接触、高精度和快速测量的特性
2025-08-27 18:04 Flexfilm 企业号
椭偏仪作为表征光学薄膜性能的核心工具，在光学薄膜领域具有不可替代的作用。本研究聚焦基底类型（K9玻璃、石英玻璃、单晶硅）对溶胶-凝胶法制备的TiO₂和SiO₂薄膜光学性能的调控机制。Flexfilm
2025-07-22 09:51 Flexfilm 企业号
的物理高度差，为实现厚膜层的简单、直接测量提供了经典方案。而光谱椭偏仪则利用光与薄膜相互作用的偏振态变化，兼具非破坏性、快速测量与提取材料光学常数的优势，成为表征透
2025-08-29 18:01 Flexfilm 企业号
被广泛采用。Flexfilm全光谱椭偏仪不仅能够满足工业生产中对薄膜厚度和光学性质的高精度测量需求，还能为科研人员提供丰富的光谱信息，助力新材料的研发和应用。1光
据解释要求。每种技术在材料科学和表面分析中都有特定的作用。Flexfilm全光谱椭偏仪可以非接触对薄膜的厚度与折射率的高精度表征，广泛应用于薄膜材料、半导体和表面科学
2025-09-15 18:02 Flexfilm 企业号
且准确的校准方法以维持仪器性能。传统校准方法（如双区域法）在实施上复杂且不易在生产线上周期性重复。Flexfilm全光谱椭偏仪可以非接触对薄膜的厚度与折射率的高精
2025-09-03 18:04 Flexfilm 企业号
超薄膜的表征技术对确定半导体薄膜材料（如金属、金属氧化物、有机薄膜）的最佳性能至关重要。本研究提出将微分干涉相衬DIC系统与椭偏仪联用表征超薄图案化自组装单分子膜（SAM）：通过DIC实时提供
2025-08-11 18:02 Flexfilm 企业号
