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型号：SP1224F 品牌：
供应SP1224F电源芯片采用SOP-8封装，提供sp1224f电路图规格参数等，更多产品手册、应用料资请向骊微电子申请。>>
2024-07-24 11:20 深圳市骊微电子科技 企业号
型号：DP4021 品牌：
供应充电器DP4021芯片内置60V 功率MOSFET，提供dp4021应用电路图关键参数 ，更多产品手册、应用料资请向深圳市骊微电子申请。>>
2023-06-15 17:07 深圳市骊微电子科技 企业号
型号：<b class='flag-s-7'>WD</b>4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器
中图仪器WD4000晶圆厚度翘曲度粗糙度检测设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度
2024-06-06 10:04 中图仪器 企业号
WD4000半导体无图晶圆几何形貌检测机可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。自动测量Wafer厚度、表面粗糙度
2024-05-27 10:46 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建。它采用的高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，能
2024-06-18 10:08 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆厚度Wafer参数量测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。可
2024-10-14 13:31 中图仪器 企业号
型号：<b class='flag-s-7'>WD</b>4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器
WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness 、TTV 、LTV 、BOW
2023-10-18 09:09 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000无图晶圆膜厚检测设备自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D
2024-07-18 14:57 中图仪器 企业号
WD4000半导体晶圆厚度测量系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR
2024-01-09 09:08 中图仪器 企业号
WD4000无图晶圆几何形貌测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等
2024-01-10 11:10 中图仪器 企业号
