上的测试。这样，可以检测晶片上的功能缺陷。（包括失效分析，晶圆可靠性测试，器件表征测试） 当然，这只是
2021-10-14 10:25
晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动，在
2023-05-11 14:35
在半导体产业的制造流程上，主要可分成IC设计、晶圆制程、晶圆测试及晶
2023-05-26 10:56
，给测试带来影响。 这时候，我们通常可以采取一些比较有效的手段来控制探针的使用效率。 1. 创造良好的测试环境 众所周知的，测试探针
2022-12-28 10:15
晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动，在
2023-05-08 10:36
晶圆探针测试也被称为中间测试（中测），是集成电路生产中的重要一环。晶
2023-01-04 16:11
晶圆探针测试也被称为中间测试（中测），是集成电路生产中的重要一环。晶
2022-08-09 09:21
探针卡是半导体晶圆测试过程中需要使用的重要零部件，被认为是测试设备的“指尖”。由于每一种芯片的引脚排列、尺寸、间距变化、
2023-05-08 10:38
真空探针台主要进行MEMS 器件晶圆级的射频测试、特种气体环境测试、压力
2022-06-06 10:44
NSAT-1000射频测试系统在ATECLOUD测试平台基础上开发而成，具有强大的兼容性，可以灵活快速接入设备，自动识别仪器，探针台就是其中之一。平台会封装
2024-07-18 17:50
