1：影响探针使用寿命的主要因素测试探针的行程是否过压，是否存在侧面力介入，通过的测试电流是否大于额定值等等2：怎么使用能使探针的寿命最大化
2019-07-22 17:39
、机械电气性能优越、可靠性高、测试寿命长等特点。从产品用途来分，分为三大类：1、IPEX和SWITCH 系列测试探针里库电子IPEX和SWITCH 系列测试探针，主要用于IPEX 1代到5代以及相对
2019-07-25 14:21
`晶圆测试是对晶片上的每个晶粒进行针测，在检测头装上以金线制成细如毛发之探针（probe），与晶粒上的接点（pad）接触，测试
2011-12-01 13:54
测试应用范围：8寸以内Wafer，IC测试，IC设计等芯片失效分析探针台测试probe
2020-10-16 16:05
电气性能优越、可靠性高、测试寿命长等特点。从产品用途来分，分为三大类：1、IPEX和SWITCH 系列测试探针里库电子IPEX和SWITCH 系列测试探针，主要用于IPEX 1代到5代以及相对
2019-12-18 17:32
`手动探针台测试经验失效分析 赵工2020年开年伊始就收到很多朋友对手动探针台使用问题的咨询，在此收集整理供手动
2020-03-28 12:14
极低温测试:因为晶圆在低温大气环境测试时，空气中的水汽会凝结在晶圆上，
2020-03-20 16:17
。适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。探针台的功能都有哪些？1.集成电路失效分析2.晶圆可靠性认证3.元器件特性量
2023-05-31 10:29
、圆头或者平头，IC脚位使用梅花头形等全依靠有经验的制作人员依PCB成品上的零件去选取。纳米化对探针来说只是材料的加强，对于测试治具的冲击是没有的，如果你有兴趣，对测试
2016-07-05 16:20
我们想要描述SMA连接器和尖端之间的共面晶圆探针。我们正在考虑使用“微波测量手册”第9.3.1节中的“使用单端口校准进行夹具表征”。我们将使用ECAL用于SMA侧，并使用晶
2019-01-23 15:24
