基于NI-VISA的晶圆测试探针台远程控制软件
2021-06-29 15:07
上的测试。这样，可以检测晶片上的功能缺陷。（包括失效分析，晶圆可靠性测试，器件表征测试） 当然，这只是
2021-10-14 10:25
晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动，在
2023-05-11 14:35
在半导体产业的制造流程上，主要可分成IC设计、晶圆制程、晶圆测试及晶
2023-05-26 10:56
1：影响探针使用寿命的主要因素测试探针的行程是否过压，是否存在侧面力介入，通过的测试电流是否大于额定值等等2：怎么使用能使探针的寿命最大化
2019-07-22 17:39
，给测试带来影响。 这时候，我们通常可以采取一些比较有效的手段来控制探针的使用效率。 1. 创造良好的测试环境 众所周知的，测试探针
2022-12-28 10:15
晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动，在
2023-05-08 10:36
晶圆探针测试也被称为中间测试（中测），是集成电路生产中的重要一环。晶
2023-01-04 16:11
、机械电气性能优越、可靠性高、测试寿命长等特点。从产品用途来分，分为三大类：1、IPEX和SWITCH 系列测试探针里库电子IPEX和SWITCH 系列测试探针，主要用于IPEX 1代到5代以及相对
2019-07-25 14:21
晶圆探针测试也被称为中间测试（中测），是集成电路生产中的重要一环。晶
2022-08-09 09:21
