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型号：WD4000 品牌：中图仪器
WD4000无图晶圆几何形貌测量系统是通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算
2024-02-21 13:50 中图仪器 企业号
WD4000无图晶圆几何形貌测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶
2024-01-10 11:10 中图仪器 企业号
WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。使用光谱共焦对射技术测量晶
2023-10-18 09:09 中图仪器 企业号
WD4000无图晶圆粗糙度测量设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算
2025-06-03 15:52 中图仪器 企业号
型号：tc wafer 品牌：
晶圆测温系统，晶圆测温热电偶，晶圆测温装置一、引言随着半导体
2023-06-30 14:57 安徽鼎诺仪器科技有限公司 企业号
中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维
2024-04-18 09:33 中图仪器 企业号
型号：WD4000系列 品牌：中图仪器
中图仪器WD4000无图晶圆膜厚检测设备自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D
2024-07-18 14:57 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000半导体无图晶圆Wafer厚度测量系统自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅
2024-08-09 15:07 中图仪器 企业号
;WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶
2025-04-11 11:11 中图仪器 企业号
WD4000无图晶圆厚度翘曲量测系统可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工
2025-06-16 15:08 中图仪器 企业号
