电子发烧友

数字测试电路    数字测试电路是为了测试动作时间和抖动时间面设计的，由于继电器内部结构同

2009-05-28 22:19

本内容详细介绍了数字测试技术应用及测试解决方案

2011-10-12 11:21

引言 半导体数字测试，特别是由STIL、WGL、VCD、EVCD或ATP等仿真文件转换而成的数字测试程序，往往需要扩展到多个DUT

2021-08-13 10:44

文章介绍了基于VXI总线高速数字测试模块的工作原理和技术指标。讨论了模块的设计思想及数据传输方式。该模块通用性和扩展性强，具有高速数据传输和实时故障诊断功能。

2010-08-28 18:01

模式发生器在数字设计测试中的应用

2017-01-22 13:43

研制了70 MHz综合基带设备全数字测试信号源，能够输出遥测、数传和时频信号，并且具有通过PCI总线获取数据和接受计算机监控的能力。以数传QPSK信号为例，讨论了测试信号源的

2008-11-11 17:35

无线通信系统暨数字测试技术研讨会 　　主办：北京电子仪器行业协会 　　时间：2010年4月21日 　　地点：中国科技会堂

2010-03-31 14:19

数字设计的测试通常需要一个或多个数字信号，而某些信号非常难以生成。模式发生器是专为解决这个问题而设计的。测试某种设备需要在该设备中采用任何一种

2017-11-14 15:20

是德科技（NYSE：KEYS）宣布，在美国圣地亚哥会议中心举办的OFC 2019 大会上，是德科技展示了其最新的光通信和高速数字测试解决方案。是德科技是一家领先的技术公司，致力于帮助企业、服务提供商和政府客户加速创新，创造一个安全互联的世界。

2019-03-12 09:14