芯片测试的主要目的是确保芯片的质量和可靠性，以及验证芯片的设计是否符合规范和要求。具体来说，测试可以检测出
2024-05-08 16:54
解决途径和方法，对提高芯片粘接强度和粘接可靠性具有参考价值。文章还指出了芯片粘接强度测试过程中的一些不当或注意点及其影响，并对不当的
2023-10-18 18:24
片上芯片SoC挑战传统测试方案,SoC生产技术的成功，依靠的是厂商以最低的生产成本实现大量的生产能力
2012-01-28 17:14
、电源管理、互联互通及系统级应用等方面的信号传输特性分析展开，如图所示。随着芯片应用技术和测试技术的发展，一些新的测试方法不断问世，这些新方法可进一步提高
2023-06-08 16:44
eCall是在汽车碰撞场景下完成，具有不可重复性，提高eCall碰撞测试成功功率对其测试认证尤为重要。通过扫频、首先完成零部件测试、增加滤波器、同步首先完成、侧碰首先完
2024-08-16 16:16
可测试性定义为：产品能及时准确地确定其状态，隔离其内部故障的设计特性，以提高产品可测试性为目的而进行的设计被称为可测试性设计。
2014-12-18 16:31
本文主要讨论一些关于辐射发射测试的场地设计问题。开阔场为优选的测试场地。然而，由于日益严重的电磁“污染”和开阔场对气候的依赖性，半电波暗室已成为经济适用的替代品。本文结合民用EMC测试标准，对用于辐射发射
2019-07-26 10:51
国家仪器该公司于今日推出了STS软件的最新增强功能，这些功能可显著提升NI半导体测试系统的编程和调试体验，并大大提高测试执行速度、并行测试效率和整体设备效率。
2019-10-14 14:30
集成芯片测试好坏的方法主要包括以下几个步骤。
2024-03-19 16:52
想要提高芯片之间的通讯速度，应该怎么做呢？传统的思路是优化芯片之间的通信接口。
2020-11-03 14:45
