利用源表SMU可以灵活的进行电阻测量 I-V测试是对待测器件(DUT)施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应。根据待测器件(DUT
2024-06-06 15:43 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号
和验证面临巨大的挑战。一方面，需要新的测试方法以改进传统路测方法，解决传统测试中需要大量行驶里程所带来的一些问题。另一方面，由于发展初期有限的市场渗透率，
2022-07-19 17:00 北汇信息POLELINK 企业号
实验名称：电压放大器在非共线混频方法检测混凝土中的应用 研究方向：无损检测 测试目的： 无损检测是在不损伤或不干扰待测物体的结构材料的情况下，对其内部损伤进行探测的方法。传统无损检测法在
2024-07-10 18:22 Aigtek安泰电子 企业号
°C, 符合 ASTM, MIL-STD 测试要求. 高低温拉伸测试是一种在恒定温度下对材料进行拉伸加载的试验方法, 通过在高温或低温环境下施
2023-12-01 14:13 伯东企业（上海）有限公司 企业号
;由于涉及到车与周围环境的通信交互，V2X的应用面临各种各样的通信环境和交通场景的组合。在V2X研发测试验证过程中如果还大量采用道路测试方法，我们将面临测试里程和
2022-07-19 17:22 北汇信息POLELINK 企业号
实验名称：功率放大器基于LabVIEW的工作电压下压电陶瓷阻抗测试实验设备：LabVIEW程序，信号发生器，功率放大器ATA-4052，数据采集卡。实验内容：本文利用最基本的大电阻并联及小电阻串联式
2022-11-18 16:37 Aigtek安泰电子 企业号
纳米材料/纳米电子器件电学测试面临的挑战1、纳米级尺寸性能不同于宏尺寸材料与器件状态变化快，对测试仪器响应速度有要求2、测试信号微弱多在样品研发阶段单位面积产生的电压/电流的微弱信号电流
2024-09-12 15:05 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号
