失效分析为设计工程师不断改进或者修复芯片的设计，使之与设计规范更加吻合提供必要的反馈信息。
2023-05-13 17:16
在电子产品中，只要产品工作就会发热。电子系统的热主要来自芯片和PCB板上产生的热量，尤其是芯片产生的热量比较显著。在电子系统中，过高的温度就会导致电源供电不足、芯片等器件失效，进而导致系统性能下降或者宕机，所以控制好
2022-12-20 09:35
EDA，三个简单字母却代表着解决芯片设计重重障碍的底层技术，一端连接着创新严谨的芯片开发者，另一端则连接着日新月异的数字世界。
2021-12-16 17:57
芯片开封（Decap），也被称为开盖或开帽，是指对完整封装的IC芯片进行局部腐蚀处理，以暴露出芯片内部结构，同时确保芯片
2024-04-20 10:25
WAT需要标注出测试未通过的裸片（die），只需要封装测试通过的die。 FT是测试已经封装好的芯片（chip），不合格品检出。WAT和FT很多项目是重复的，FT多一些功能性测试。WAT需要探针接触测试点（pad）
2024-04-17 11:37
库函数（Library function）是把函数放到库里，供别人使用的一种方式。方法是把一些常用到的函数编完放到一个文件里，供不同的人进行调用。调用的时候把它所在的文件名用#include加到里面就可以了。一般是放到lib文件里的。
2019-06-03 06:22
库函数（Library function）是把函数放到库里，供别人使用的一种方式。方法是把一些常用到的函数编完放到一个文件里，供不同的人进行调用。调用的时候把它所在的文件名用#include加到里面就可以了。一般是放到lib文件里的。
2019-06-03 06:24
Arm Statistical Profiling Extension (SPE, 统计分析扩展) 是一种架构级功能，旨在增强 Arm CPU 的指令执行分析。
2024-01-24 18:16
