功率循环加速老化试验中，IGBT 器件失效模式 主要为键合线失效或焊料老化，失效
2024-04-18 11:21
元器件的长期储存的失效模式和失效机理
2017-10-19 08:37
元器件长期储存的失效模式和失效机理
2017-10-17 13:37
微波半导体器件在微波系统中能发挥各方面性能，归纳起来，即在微波功率产生及放大，控制、接收三个方面。而
2023-02-16 16:27
IGBT及其子器件的几种失效模式
2010-02-22 10:50
电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。
2022-10-24 16:10
本文通过大量的历史资料调研和失效信息收集等方法，针对不同环境应力条件下的MEMS惯性器件典型失效模式及失效机理进行了深入
2018-05-21 16:23
IGBT及其派生器件，例如：IGCT，是MOS和双极集成的混合型半导体功率器件。因此，IGBT的失效模式，既有其子
2018-06-20 14:51
对约 50例微波器件失效分析结果进行了汇总和分析 ，阐述了微波器件在使用中失效
2020-05-10 10:37
