微光显微镜EMMI可广泛应用于侦测各种芯片组件缺陷所产生的漏电流，包括闸极氧化层缺陷、静电放电破坏、闩锁效应、漏电、接面漏电 、顺向偏压及在饱和区域操作的晶体管，可藉由EMMI定位，找热点或找亮点)位置，进而得知缺陷原因，宜特实验室可帮助后续做进一步的失效分析。
2019-03-05 17:03
`EMMI（微光显微镜）对于失效分析而言，微光显微镜是一种相当有用，且效率极高的分析工具，主要侦测IC内部所放出光子。在IC原件中，EHP Recombination会
2019-12-27 12:55
砷化镓铟微光显微镜(InGaAs)与微光显微镜(EMMI)其侦测原理相同，都是用来侦测故障点定位，寻找亮点、热点(Hot Spot)的工具，其原理都是侦测电子-电洞结合
2018-10-24 11:20
光束诱导电阻变化（OBIRCH）功能与微光显微镜（EMMI）常见集成在一个检测系统，合称PEM（Photo Emission Microscope），两者互为补充，能够很好的应对绝大多数失效模式。
2021-06-20 17:35
光束诱导电阻变化（OBIRCH）功能与微光显微镜（EMMI）常见集成在一个检测系统，合称PEM（Photo Emission Microscope），两者互为补充，能够很好的应对绝大多数失效模式。
2021-09-22 09:07
HEMOS-1000是一款标准型高分辨率微光显微镜，其包含了一个红外共焦激光显微镜。PHEMOS-1000可根据设备环境和设备装置来灵活改变包括插座板到300mm双面晶片探针等等的部件。它还可以适配
2021-09-23 09:17
微光显微镜(EMMI) 芯片漏电定位emmi,对于半导体组件之故障分析而言,微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)已被学理证实是一种相当有用且
2021-08-05 12:11
半导体器件芯片分析的几种方法与步骤。分析手段一般包括：c-sam，x-ray，sem扫描电镜，EMMI微光显微镜等。
2012-05-02 15:36
/EDX能量弥散X光仪 可用于材料结构分析/缺陷观察，元素组成常规微区分析，精确测量元器件尺寸 4、三种常用漏电流路径分析手段：EMMI微光显微镜/OBIRCH镭射光束诱发阻抗值变化测试/LC 液晶
2012-09-20 17:39
[size=13.3333px]显微镜倍率如何计算？很多实验室都在使用显微镜，但对显微镜的相关专业知识并不了解，只是知道怎么去操作，但对于一些基本常识可能都不怎么清楚，那么今天我们就来讲讲有关
2020-02-06 13:09
