电子发烧友

在电路设计时我们常常遇到开漏（open drain）和开集（open collector）的概念。开漏电路概念中提到的“漏”就是指MOSFET的漏极。同理，开集电路中的

2018-01-11 14:21

文章由山东华科信息技术有限公司提供在电子芯片制造这一高度精密的行业中，电力供应的稳定性和安全性是确保生产流程顺畅进行的关键。环网柜作为电力分配和转换的核心设备，其运行状态直接影响着整个芯片厂的生产

2025-04-17 10:07 山东华科信息 企业号

开盖检测（DecapsulationTest），即Decap，是一种在电子元器件检测领域中广泛应用的破坏性实验方法。这种检测方式在芯片的失效分析、真伪鉴定等多个关键领域发挥着不可或缺的作用，为保障

2025-03-20 11:18 金鉴实验室 企业号

一些微控制器输出可以设置为开漏（或者只能设置为开漏）。开漏输出只能被驱动为低电平，而不能被驱动为高电平；输出为低电平或浮动。实质上，输出只是简单地连接到晶体管的漏极引脚（因此称为

2023-11-27 15:45

芯片是LED最关键的原物料，其质量的好坏，直接决定了LED的性能。特别是用于汽车或固态照明设备的高端LED，绝对不容许出现缺陷，也就是说此类设备的可靠性必须非常高。然而，LED封装厂由于缺乏芯片来料

2025-05-27 15:49 金鉴实验室 企业号

芯片开封（Decap），也被称为开盖或开帽，是指对完整封装的IC芯片进行局部腐蚀处理，以暴露出芯片内部结构，同时确保

2024-04-20 10:25

本文涵盖模块类的钢网开孔设计与DFM建议、BGA类的钢网开孔设计与DFM建议、有外延脚的器件的钢网开孔设计与DFM建议等内容。希望您在阅读本文后有所收获，欢迎在评论区发表您的想法。

2023-11-20 11:47

我们在使用ARM Cortex-M内核芯片进行产品开发时，有时可能需要暂时开辟一个相对清静、不被打扰的程序执行环境，以确保某些操作可靠顺利完成。这时我们往往会使用所谓开、关总中断的指令代码来完成

2023-05-18 09:18

推挽输出与开漏输出讲解

2023-07-28 14:01

开短路测试，是测试工程师需要掌握的最基本的技能，通常被称为continuitytest 或者open/short test。开短路测试的原理，其实是基于产品本身管脚的ESD防静电保护二极管的正向导通压降的原理进行测试。

2017-10-26 16:38