在电路设计时我们常常遇到开漏（open drain）和开集（open collector）的概念。开漏电路概念中提到的“漏”就是指MOSFET的漏极。同理，开集电路中的
2018-01-11 14:21
从2004年开始，我写过几次小型IC设计中心的IT环境。比较多的论述了创业类型的芯片设计公司，应该怎么去设计自己的IT环境。这10多年间，有不少初创型的公司来咨询过如何更好的规划IT系统，我都尽力协助解决。
2019-03-16 09:34
当前开源芯片仍存在“死结”。具体而言，芯片设计阶段需要投入大量的人力、电子设计自动化（EDA）和IP成本，因此开发人员或企业不愿意将其设计的芯片与IP开源；这导致业界与
2020-02-18 14:54
开短路测试，是测试工程师需要掌握的最基本的技能，通常被称为continuitytest 或者open/short test。开短路测试的原理，其实是基于产品本身管脚的ESD防静电保护二极管的正向导通压降的原理进行测试
2017-10-26 16:38
今天为大家介绍一项国家发明授权专利——具备开盖告警功能的智能电表和开盖告警方法。该专利由国家电网公司申请，并于2018年10月26日获得授权公告。
2018-11-28 10:21
我们在使用ARM Cortex-M内核芯片进行产品开发时，有时可能需要暂时开辟一个相对清静、不被打扰的程序执行环境，以确保某些操作可靠顺利完成。这时我们往往会使用所谓开、关总中断的指令代码来完成
2023-05-18 09:18
一些微控制器输出可以设置为开漏（或者只能设置为开漏）。开漏输出只能被驱动为低电平，而不能被驱动为高电平；输出为低电平或浮动。实质上，输出只是简单地连接到晶体管的漏极引脚（因此称为
2023-11-27 15:45
常说的与推挽输出相对的就是开漏输出（Open Drain Output），对于开漏输出和推挽输出的区别最普遍的说法就是开漏输出无法真正输出高电平，即高电平时没有驱动能力，需要
2023-01-29 13:41
