C-V特性),C-V 曲线测试可以方便的确定二氧化硅层厚度dox、衬底掺杂浓度N、氧化层中可动电荷面密度Q1、和固定电荷面密度Qfc等参数。 ●&nbs
2024-06-05 11:16 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号
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2024-07-29 14:08 陕西天士立科技有限公司 企业号
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2024-08-01 15:23 陕西天士立科技有限公司 企业号