利用源表SMU可以灵活的进行电阻测量 I-V测试是对待测器件(DUT)施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应。根据待测器件(DUT
2024-06-06 15:43 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号
器件在使用过程中最常见的失效模式之一就是电浪涌引起的电过载（EOS)损伤或烧毁。下面简聊下集成电路电浪涌的产生和预防。1. 什么是电浪涌（电过载EOS）
2022-07-29 10:33 陕西航晶微电子有限公司 企业号
，谐振点处阻抗最小，反谐振点处阻抗最大，本文利用基本的大电阻并联及小电阻串联式电压电流表原理，基于LabVIEW程序和配套的NIPXI模块化仪器设计测试系统，对压
2021-07-26 17:46 Aigtek安泰电子 企业号
电阻/电容的外观检测案例 视觉检测系统 电阻/电容的外观检测案例分析：检测内容:是否有本体缺陷、刮伤、崩边，是否有破损、脏污、异色。检测过程说明：1、通过图像摄取
2023-07-04 11:51 苏州视立得智能科技有限公司 企业号
热敏电阻由复合材料——通常是陶瓷、聚合物或半导体制成，与由纯金属制成的，RTD相比，前者要小得多且更便宜，但不如后者坚固。热敏电阻能够比RTD更快地检测温度变化，从而提供更快的反馈。因此，热敏电阻
2023-10-17 10:21 国芯思辰（深圳）科技有限公司 企业号
