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型号:PMST 品牌:
普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量不同封装类型功率
2024-06-05 11:01 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号
型号:点光谱共焦<b class='flag-s-7'>测量</b>显微<b class='flag-s-7'>系统</b> 品牌:
产品介紹—— 点光谱共焦测量显微系统是一种可达次级微米级的非接触式位移量测系统,对于表面漫反射或镜反射之物体乃至透明材质皆可测量其位移或厚度,基于出光与回传讯
2023-05-16 15:46 普密斯光学 企业号
型号:STD2000 品牌:
分立器件静态参数测试系统&能测 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......陕西天士立科技有限公司/STD2000/分立器件静态
2024-07-30 17:11 陕西天士立科技有限公司 企业号
功率器件参数测试仪系统&能测 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......功率器件参数测试仪
2024-07-30 17:27 陕西天士立科技有限公司 企业号
分立器件参数测试仪系统&能测 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......分立器件参数测试仪
2024-07-30 11:12 陕西天士立科技有限公司 企业号
型号:HUSTEC-1600A-MT 品牌:
半导体分立器件静态参数测试仪系统产品介绍 产品为桌面放置的台式机结构,由测试主机和程控电脑两大部分组成。外挂各类夹具和适配器,还能 够通过
2024-05-20 17:10 hustec 企业号
半导体分立器件静态参数测试系统&能测 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......半导体分立器件静态参数
2024-07-30 08:56 陕西天士立科技有限公司 企业号
半导体功率器件静态参数测试仪系统&能测 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......半导体功率器件静态参数
2024-07-30 09:01 陕西天士立科技有限公司 企业号
型号:MetX<b class='flag-s-7'>系统</b> 品牌:
MetX多元传感测量系统 轮廓扫描、对比—— 系统展示案例 1.软件可自动寻边扫描整个闭合曲线,并与导入的CAD理论曲线做轮廓比对,并输出图形报告;2.可
2024-01-11 15:11 普密斯光学 企业号
型号:C-V特性测试<b class='flag-s-7'>系统</b> 品牌:
电容-电压(C-V)测量广泛用于测量半导体参数,尤其是MOS CAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压的函数,MOS电容随外加电压变化的曲线称之为C-V曲线(简称
2024-06-05 11:16 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号