LED灯珠是一个由多个模块组成的系统。每个组成部分的失效都会引起LED灯珠失效。
2020-03-22 23:13
本文开始介绍了芯片卡特点和芯片卡的标准，其次介绍了磁条卡概念、优缺点以及磁条卡的分类，最后介绍了
2018-04-08 09:32
在半导体制造领域，电气过应力（EOS）和静电放电（ESD）是导致芯片失效的两大主要因素，约占现场失效器件总数的50%。它们不仅直接造成器件损坏，还会引发长期性能衰退和可靠性问题，对生产效率与产品质量构成严重威胁。
2025-08-21 09:23
LED灯珠是一个由多个模块组成的系统。每个组成部分的失效都会引起LED灯珠失效。 从发光芯片到LED灯珠，失效模式有将近三十种，如表1，LED灯珠的
2018-07-12 14:34
在智能卡三轮测试中，失效表现为芯片受损，本文基于有限元模型来研究智能 IC 卡（Integrated circuit card）
2024-02-25 09:49
闩锁效应（Latch-up）是CMOS工艺中一种寄生效应，通常发生在CMOS电路中，当输入电流过大时，内部电流急剧增加，可能导致电路失效甚至烧毁芯片，造成芯片不可逆的损伤。
2024-12-27 10:11
芯片失效分析中对芯片的截面进行观察，需要对样品进行截面研磨达到要观察的位置，而后再采用光学显微镜（OM Optical Microscopy）或者扫描电子显微（SEM Scanning Electron Micros
2025-05-15 13:59
MEMS麦克风噪声主要包括MEMS芯片的机械振动噪声和ASIC芯片的电噪声，如何在非破坏性测试的情况下快速判断噪声失效的原因一直困扰着
2018-11-13 16:10
