• 发文章

  • 发资料

  • 发帖

  • 提问

  • 发视频

创作活动
0
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
返回

电子发烧友 电子发烧友

  • 全文搜索
    • 全文搜索
    • 标题搜索
  • 全部时间
    • 全部时间
    • 1小时内
    • 1天内
    • 1周内
    • 1个月内
  • 默认排序
    • 默认排序
    • 按时间排序
大家还在搜
  • 元器件失效机理分析

    元件的失效直接受湿度、温度、电压、机械等因素的影响。

    2022-08-19 11:25

  • 片状电阻失效机理分析

    片状电阻器是空调控制器及控制器组件内的核心器件。其体积小、重量轻、电性能稳定、可靠性高等特性,使之成为电子电路最常用的贴装元件之一。它是大多数电子产品的必需品,广泛应用于电路板、操控板等各类生活电器产品,其性能工作状态直接影响产品的调试及使用。

    2021-06-12 10:05

  • 解析CAF失效机理分析方法

    随着电子产品的快速发展,电子设备更是朝着轻.薄.小的方向发展,使得印制电路板CAF问题成为影响产品可靠性的重要因素.通过介绍CAF失效原理,及CAF失效分析方法,为加工商提供CAF效应

    2013-09-30 14:39

  • 常见的电子元器件失效机理分析

    电阻线或电阻膜在制备过程中都会承受机械应力,使其内部结构发生畸变,线径愈小或膜层愈薄,应力影响愈显著。一般可采用热处理方法消除内应力,残余内应力则可能在长时间使用过程中逐步消除,电阻器的阻值则可能因此发生变化。

    2023-05-08 11:34

  • 激光盲孔与底铜结合力不良的失效机理分析

    电子设计在不断提高整机性能的同时,也在努力缩小其尺寸。从手机到智能武器的小型便携式产品中,"轻、薄、小"是永远不变的追求。而PCB制造工艺中的高密度集成(HDI)技术可以使终端产品设计更加小型化,同时满足电子性能和效率的更高标准。

    2019-04-06 15:23

  • 半导体器件键合失效模式及机理分析

    本文通过对典型案例的介绍,分析了键合工艺不当,以及器件封装因素对器件键合失效造成的影响。通过对键合工艺参数以及封装环境因素影响的分析,以及对各种失效模式总结,阐述了键合

    2023-07-26 11:23

  • MEMS惯性器件典型失效模式及失效机理研究

    本文通过大量的历史资料调研和失效信息收集等方法,针对不同环境应力条件下的MEMS惯性器件典型失效模式及失效机理进行了深入探讨和

    2018-05-21 16:23

  • 晶闸管的失效模式与机理

    电路性能下降甚至系统瘫痪。因此,深入了解晶闸管的失效模式与机理,对于提高电路设计的可靠性具有重要意义。本文将从晶闸管的基本原理出发,详细探讨其失效模式与机理,并结合相关

    2024-05-27 15:00

  • 了解电子元器件失效机理、模式以及分析技术等

    对电子元器件的失效分析技术进行研究并加以总结。方法 通过对电信器类、电阻器类等电子元器件的失效原因、失效机理等故障现象进

    2018-01-30 11:33

  • MOSFET的失效机理

    MOSFET等开关器件可能会受各种因素影响而失效。因此,不仅要准确了解产品的额定值和工作条件,还要全面考虑电路工作中的各种导致失效的因素。本系列文章将介绍MOSFET常见的失效

    2023-03-20 09:31