器件在使用过程中最常见的失效模式之一就是电浪涌引起的电过载(EOS)损伤或烧毁。下面简聊下集成电路电浪涌的产生和预防。1. 什么是电浪涌(电过载EOS)  
2022-07-29 10:33 陕西航晶微电子有限公司 企业号
上海伯东日本 Atonarp Aston Impact 高灵敏度质谱分析仪, 基于四级杆的质量分离, Aston 质谱分析仪设计紧凑, 适用于气体分析和过程气体监测, 满足半导体工艺过程中
2024-10-18 13:42 伯东企业(上海)有限公司 企业号
实验名称:高压放大器基于通电空心线圈的脉冲磁场分析中的应用实验设备:任意波形发生器、高压放大器(ATA-4014)、限流电阻、霍尔效应高斯计、漆包线绕制线圈、示波器实验内容:本文就通电空心线圈
2022-11-28 15:09 Aigtek安泰电子 企业号