器件在使用过程中最常见的失效模式之一就是电浪涌引起的电过载(EOS)损伤或烧毁。下面简聊下集成电路电浪涌的产生和预防。1. 什么是电浪涌(电过载EOS)  
2022-07-29 10:33 陕西航晶微电子有限公司 企业号
方案差模采用大通流压敏电阻,共模采用大通流压敏电阻串放电管泄放雷击、浪涌大电流,可以延长压敏使用寿命;满足 IEC 61000-4-5 、GB/T 17626-2
2022-07-20 15:15 深圳市优恩半导体有限公司 企业号
方案差模采用大通流压敏电阻,共模采用大通流压敏电阻串放电管泄放雷击、浪涌大电流,可以延长压敏使用寿命;满足 IEC 61000-4-5 、GB/T 17626-2
2022-07-20 15:24 深圳市优恩半导体有限公司 企业号