BGA失效分析与改善对策
2023-04-11 10:55
BGA失效分析与改善对策
2023-06-26 10:47
本文涵盖HIP失效分析、HIP解决对策及实战案例。希望您在阅读本文后有所收获，欢迎在评论区发表您的想法。
2023-10-16 15:06
重要因素。线束插接件的常见失效模式有插接件端子退针、歪针、扩孔，插接件虚接等多种模式，插接件以上失效模式也不能完全被EOL 设备或功能检查所拦截，存在逃逸至客户的风险，所以需要针对各种
2024-10-30 15:44
IC测试常见问答提供了IC测试中最常见到的一些问题并给出了解决方法，希望对您有所帮助！
2012-02-03 16:40
在芯片失效分析中，常用的测试设备种类繁多，每种设备都有其特定的功能和用途，本文列举了一些常见的测试设备及其特点。
2024-08-07 17:33
电参数变化(包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等)，部分功能失效
2023-08-23 11:23
本文主要对变压器线圈常见的三种失效机理进行了介绍，另外还对电感和变压器类失效机理与故障进行了分析。
2018-05-31 14:41
塑封元器件目前被广泛使用，例如各种开关、插接件等都是用热铸塑的方式制成的。这种元器件不能承受高温，在焊接过程中如果温度过高，焊接时间过长，将会导致元器件变形，失效。
2020-05-07 11:29
