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2024-04-09 23:30 深圳市华沣恒霖电子科技有限公司 企业号
型号:WD4000系列 品牌:中图仪器
WD4000半导体晶圆量测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、War
2024-09-09 16:30 中图仪器 企业号
型号:TC 1000 品牌:
,目前国内检测设备的自动化程度低、测试功能不全、操作环节复杂,进口全自动设备(主要是日本和德国),订购周期长、价格昂贵、售后响应慢。我司技术团队依托自有封装测试
2023-04-13 16:28 无锡华琛微 企业号
型号:WD4000 品牌:中图仪器
。WD4000半导体晶圆wafer厚度测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、L
2024-09-06 16:52 中图仪器 企业号
型号:DOT800T 品牌:
、集成化、大功率、低功耗是功率半导体的主要发展方向,这些趋势也对自动化测试设备提出了更高的要求。SPEA长期深耕半导体测试行业,持续探索并突破核心检测技术,公司出品的
2022-09-16 15:36 SPEA 企业号
型号:HC-BT2000A-COS-25-S 品牌:
无锡华琛半导体设备有限公司是佶达德产业集团下属子公司,专业从事精密自动化设备、半导体专用设备、精密仪器等战略性新兴产业,为
2022-01-04 11:42 无锡华琛微 企业号
型号:IGBT及第三代<b class='flag-s-7'>半导体</b>器件全参数测试 品牌:广电计量
服务范围MOSFET、IGBT、DIODE、BJT,第三代半导体器件等分立器件,以及上述元件构成的功率模块。检测标准l AEC-Q101分立器件认证l MIL-STD-750
2024-01-29 22:00 广电计量 企业号
WD4000半导体晶圆几何表面形貌检测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度
2025-01-06 14:34 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000半导体晶圆几何形貌量测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度
2024-09-29 16:54 中图仪器 企业号
WD4000半导体晶圆检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI
2023-10-19 11:08 中图仪器 企业号