从分析故障诊断与测试性的异同出发，描述了可测试性设计的重要性及从设计角度而言的优缺点，介绍了可测试性设计工作的目标和主要
2009-12-12 15:08
摘 要 :可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可
2010-09-21 16:47
为解决某导弹自动测试系统软件测试难度大的问题，介绍了常用提高软件可测试性的方法和DLL技术。并运用COM技术设计出该系统的组件软件，显著提高了自动
2009-06-01 11:55
近年来出现的离散事件系统（DES）理论为数模混合电路的测试提供了一种新的解决思路，本文对DES 理论在求取数模混合电路的可测试性和最小测试集中的应用进行了论述。该种方
2009-05-31 16:12
VLSI测试技术导论， 可测试性设计， 逻辑与故障模拟，测试生成，逻辑自测试，测
2020-10-09 08:00
本文档的主要内容详细介绍的是集成电路测试与可测试设计概述的学习课件包括了：1. IC技术的发展及趋势 2. IC产业链的发展及趋势 3. 学习IC测试与DFT课程的必要
2020-11-30 08:00
电子发烧友网站提供《设计可测试花园和可穿戴电子设备的电路板.zip》资料免费下载
2022-11-18 14:23
基于仿真器的传统验证速度太慢，而且可能需要DFT工程师成为设计的关键路径，即设计的最慢的一环节，更糟糕的是，他们可能会在流片前实施会降低DFT设计可信度的策略。理想情况下，客户希望在流片之前验证DFT。但由于上市时间方面的压力，芯片在流片前只进行了极少的DFT验证，因此在芯片制造的过程中甚至在其返回到实验室之后，必须继续进行DFT验证。因此，我们需要的是一个硬件加速流程，从而可大幅缩短执行完整验证作业所需的仿真周期。
2018-03-01 11:13
2013-03-14 09:56
几年前，笔者在自动测试设备 （ATE） 领导者 Teradyne 工作时，经常会碰到一个根本性的两难抉择：在生产/测试车间，是通过一件不合格的器件比较好，还是剔除一件合格器件比较好？显然，这两个
2017-11-28 10:48
