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  • 电子元器件可靠性筛选

    可靠的元器件,淘汰掉有潜在缺陷的产品。从广义上来讲,在元器件生产过程中各种工艺质量检验以及半成品、成品的电参数测试都是筛选,而我们这里所讲的是专门设计用于剔除早期失效元

    2016-11-17 22:41

  • 提供半导体工艺可靠性测试-WLR晶圆可靠性测试

    潜在可靠性问题;与传统封装级测试结合,实现全周期可靠性评估与寿命预测。 关键测试领域与失效机理 WLR技术聚焦半导体器件

    2025-05-07 20:34

  • GaN可靠性测试

    qualification recipe)即可。由于长期的业界经验和可靠性模型的验证,人们现在可以接受将基于标准的测试用于硅材料的做法,不过也有例外的情况。功率金属氧化物半导体场效应晶体管

    2018-09-10 14:48

  • 电路可靠性设计与元器件选型

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    2010-04-26 22:20

  • 电路可靠性设计与元器件选型

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    2010-04-26 22:05

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    设计规范电路可靠性设计规范包括降额设计(降额参数和降额因子)、热设计(热设计计算、热设计测试、热器件选型)、电路安全设计规范、EMC设计、PCB设计(布局布线、接地、

    2009-12-18 16:29

  • 电路可靠性设计与元器件选型

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    2009-12-04 14:32

  • 可靠性与失效分析

    苏州纳米所可靠性与失效分析中心秉承加工平台公共服务方面的特性,在对外提供支撑和服务过程中多方发现用户的共性需求,以检测能力与市场需求完美契合为目标不断完善。目前本中心在电子材料、元器件、封装、SMT

    2018-06-04 16:13

  • 单片机应用系统的可靠性可靠性设计

    可靠性测试记录。 (2)最大的系统集成最大的系统集成可以最大限度简化系统构成,有助于减少系统硬件失误概率。最大的系统集成应具备:依靠器件解决的思想;单片机选择实现系统的最大包容;0EM 的支持。 2.

    2021-01-11 09:34

  • GaN HEMT可靠性测试:为什么业界无法就一种测试标准达成共识

    如果基于GaN的HEMT可靠性的标准化测试方法迫在眉睫,那么制造商在帮助同时提供高质量GaN器件方面正在做什么? GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)由于其极高的耐高温

    2020-09-23 10:46