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    2012-02-15 14:35

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    2012-04-23 15:11

  • 半导体组件参数分析

    利用SMU(Source measurement unit)供应电压或电流,验证与量测半导体组件特性(Diode I-V Curve、MOSFET特性曲线等)。 iST宜特检测可协助验证及量测半导体

    2018-10-24 11:11

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  • 半导体封装数据分析

    本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:52 编辑 请教关于JMP在半导体封装数据分析中的使用案例,希望高手能多多指教。

    2012-11-20 16:01

  • 半导体失效分析项目介绍

    半导体失效分析项目介绍,主要包括点针工作站(Probe Station)、反应离子刻蚀(RIE)、微漏电侦测系统(EMMI)、X-Ray检测,缺陷切割观察系统(FIB系统)等检测试验。

    2020-11-26 13:58

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    2016-09-05 10:40

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    `2017年可谓是令人振奋的一年,射频半导体行业取得了众多颠覆性的突破与进步,包括但不限于持续整合MMIC市场,通过氮化镓技术促进新型基站架构和射频能量应用的发展,甚至在实现5G部署方面也初步取得了

    2018-02-08 11:01