在ICT或者FCT测试中，治具上的探针总归会测试到一定的寿命时候变得脏污，造成测试不通，通常的情况下也许探针本身的弹性和
2022-12-28 10:15
spacer.gif2017年12月6日，英国，伦敦 ——全球领先的电子元器件、连接器、微波元器件，子系统以及射频产品生产商Smiths Interconnect史密斯英特康正式推出一款性能更优化的晶片级芯片封装测试探针头——Volta系列
2017-12-08 11:06
以2019年度的数据计算，精微屏蔽罩的收入占比最大，达到66.50%；精密结构件占比次之，为14.98%；半导体芯片测试探针的收入占比达到10.34%。
2020-06-19 08:54
探针头型的选择尺寸是一个复杂的过程，需要考虑多个因素，包括被测点的形状、大小、间距、测试环境以及测试要求等。以下是一些选择探针头型尺寸的基本原则和步骤： 一、基本原则
2024-09-07 10:48
Chiplet将复杂芯片拆解成一组具有单独功能的小芯片单元die(裸片)，通过die-to-die将模块芯片和底层基础芯片封装组合在一起。相较于传统SoC，Chiple
2023-05-16 15:45
探针头型的使用方法多种多样，具体取决于探针头型的类型、被测对象的特性以及测试需求。以下是一些常见探针头型的使用方法概述： 1. 凹头
2024-09-07 10:57
在通常的ICT测试案例里，有三种主要的测试解决方案。 焊点，过孔，引脚。 一些电子制造服务商都会有在线测试和功能性测试， 在我们开始如何有效选择
2022-12-29 09:59
