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电容-电压(C-V)测量广泛用于测量半导体参数,尤其是MOS CAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压的函数,MOS电容随外加电压变化的曲线称之为C-V曲线(简称
2024-06-05 11:16 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号
型号:UI120C系列 集成电池管理<b class='flag-s-7'>系统</b><b class='flag-s-7'>自动测试</b><b class='flag-s-7'>系统</b> 品牌:
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2021-12-02 10:58 汉通达 企业号
型号:TC 1000 品牌:
全自动半导体激光COS测试机TC 1000 COS(chip on submount)是主流的半导体激光器封装形式之一,对COS
2023-04-13 16:28 无锡华琛微 企业号
型号: MEMS芯片转台<b class='flag-s-7'>测试</b><b class='flag-s-7'>系统</b>UI320A 品牌:
联合仪器MEMS测试系统UI320A采用测试机加转台的构架,是对MEMS陀螺仪和加速度计的测试平台。可对MEMS传感器芯片进行测
2021-12-01 11:34 汉通达 企业号
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2022-06-20 15:31 中图仪器 企业号
型号:SYS3000系列 品牌:吉事励电子(苏州)有限公司
产品概述SYS3000系列自动测试系统遵循行业最新标准针对光伏逆变器测试老化而设计的系统平台,配置最优化的测试项目,
2022-09-06 15:47 吉事励电子 企业号
型号:STD2000 品牌:
半导体分立器件静态参数测试系统&能测 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......半导体分立器件静态参数测试
2024-07-30 08:56 陕西天士立科技有限公司 企业号
半导体功率器件静态参数测试仪系统&能测 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......半导体功率器件静态参数测试
2024-07-30 09:01 陕西天士立科技有限公司 企业号
型号:IGBT及第三代<b class='flag-s-7'>半导体</b>器件全参数<b class='flag-s-7'>测试</b> 品牌:广电计量
服务范围MOSFET、IGBT、DIODE、BJT,第三代半导体器件等分立器件,以及上述元件构成的功率模块。检测标准l AEC-Q101分立器件认证l MIL-STD-750
2024-01-29 22:00 广电计量 企业号
型号:HUSTEC-1600A-MT 品牌:
半导体分立器件静态参数测试仪系统产品介绍 产品为桌面放置的台式机结构,由测试主机和程控电脑两大部分组成。外挂各类夹具
2024-05-20 17:10 hustec 企业号