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型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

中图仪器WD4000半导体晶圆形貌检测机通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000

2024-09-19 11:39 中图仪器 企业号

型号：华太<b class='flag-s-7'>半导体</b> 品牌：

咨询请看首页华太半导体（HOTTEK-SEMI）是一家专业电容式触控方案设计公司，拥有专业软件研发团队。HOTTEK-SEMI推出的新一代触摸MCU性能卓越：可多次重复编程（MTP），防水，抗干扰强

2025-05-20 16:11 华太半导体（深圳）有限公司 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。 WD4000半导体晶圆几何表面形貌检测设备可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检

2025-01-06 14:34 中图仪器 企业号

型号：IGBT及第三代<b class='flag-s-7'>半导体</b>器件全参数测试 品牌：广电计量

服务范围MOSFET、IGBT、DIODE、BJT，第三代半导体器件等分立器件，以及上述元件构成的功率模块。检测标准l  AEC-Q101分立器件认证l  MIL-STD-750

2024-01-29 22:00 广电计量 企业号

型号：SuperView W1 品牌：

、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 白光干涉仪在半导体的应用硅晶圆的粗糙度检测在半导

2022-04-07 15:22 中图仪器 企业号

型号：WD4000 品牌：中图仪器

，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000半导体无图晶圆形貌检测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆

2024-05-10 10:07 中图仪器 企业号

型号：SuperViewW系列 品牌：

专注于质量控制和不断增长的工业 4.0推动了 3D测量市场的增长。半导体3D自动光学检测系统能够以优于纳米级的分辨率，测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数，主要

2022-06-20 15:31 中图仪器 企业号

型号：HX-XPJC-100 品牌：

、芯片识别、分拣、高精度缺陷检测功能模块：摘料、OCR识别、反面缺陷检测、正面缺陷

2024-05-08 11:41 互喜智联 企业号

型号：X-ray无损<b class='flag-s-7'>检测</b> 品牌：广电计量

服务范围主要用于SMT.LED.BGA.CSP倒装芯片检测，半导体，封装元件，锂电池工业，电子元器件，汽车零部件，光伏行业，铝压铸模铸造，模压塑料，陶瓷制品等特殊

2024-01-29 22:11 广电计量 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

表面形貌的参数。非接触测量方式在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000半导体晶圆量测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数

2024-09-09 16:30 中图仪器 企业号