电容-电压(C-V)测量广泛用于测量半导体参数，尤其是MOS CAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压的函数，MOS电容随外加电压变化的曲线称之为C-V曲线（简称
2024-06-05 11:16 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号
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2025-05-20 16:11 华太半导体（深圳）有限公司 企业号
半导体热特性试验系统ST-PCX基础能力试验对象各种封装的Diode、BJT、MOS-FET、SCR、IGBT、IPM等试验能力功率循环秒级/PCsec
2024-08-02 16:28 陕西天士立科技有限公司 企业号
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2024-08-01 13:33 陕西天士立科技有限公司 企业号
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2022-10-27 18:53 Powsuns百赛思 企业号
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2025-05-20 11:50 华太半导体（深圳）有限公司 企业号
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2024-04-14 23:03 深圳市华沣恒霖电子科技有限公司 企业号
特点一台半导体参数分析仪抵得上多种测量仪器Keysight B1500A 半导体参数分析仪是一款一体化器件表征分析仪，能够测量 IV、CV、脉冲/动态 I-V 等参数。 主机和插入式模块能够表征
2024-12-17 10:58 深圳集源科技有限公司 企业号
纤耦合SESAM采用专用半导体可饱和吸收镜芯片封装，具有高消光比、高稳定性、低插入损耗等特性，主要应用于超快光纤激光器中。技术指标 Specificati
2024-07-11 11:15 上海屹持光电技术有限公司 企业号
