什么是半导体的成品测试系统，如何测试其特性？ 半导体的成品
2023-11-09 09:36
电容-电压(C-V)测量广泛用于测量半导体参数，尤其是MOS CAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压的函数，MOS电容随外加电压变化的曲线称之为C-V曲线（简称
2024-06-05 11:16 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号
半导体具有独特的导电性能。当环境温度升髙或有光照时，它们的导电能力 会显著增加，所以利用这些特性可以做成各种温敏元件（如热敏电阻）和各种光 敏元件（如光敏电阻、光敏二极管、光敏三极管等）。更重
2017-07-28 10:17
半导体具有独特的导电性能。当环境温度升髙或有光照时，它们的导电能力 会显著增加，所以利用这些特性可以做成各种温敏元件（如热敏电阻）和各种光 敏元件（如光敏电阻、光敏二极管、光敏三极管等）。更重
2018-02-11 09:49
敏感，据此可以制造各种敏感元件，用于信息转换。 半导体材料的特性参数有禁带宽度、电阻率、载流子迁移率、非平衡载流子寿命和位错密度。禁带宽度由半导体的电子态、原子组态决定，反映组成这种材料的原子中价
2013-01-28 14:58
半导体热特性试验系统ST-PCX基础能力试验对象各种封装的Diode、BJT、MOS-FET、SCR、IGBT、IPM等试验能力功率循环秒级/PCsec
2024-08-02 16:28 陕西天士立科技有限公司 企业号
测试对测 试系统的要求越来越高。通常这些器件的接触电极尺 寸只有微米量级，这些对低噪声源表，探针台和显微 镜性能都提出了更高的要求。半导体分立器件I-V特性
2019-10-08 15:41
半导体静态测试参数是指在直流条件下对其进行测试，目的是为了判断半导体分立器件在直流条件下的性能，主要是测试
2023-10-10 15:05
`半导体器件C-V特性测试方案交流C-V测试可以揭示材料的氧化层厚度，晶圆工艺的界面陷阱密度，掺杂浓度，掺杂分布以及载流子寿命等，通常使用交流C-V
2019-09-27 14:23
