电容-电压(C-V)测量广泛用于测量半导体参数,尤其是MOS CAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压的函数,MOS电容随外加电压变化的曲线称之为C-V
2024-06-05 11:16 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号
SPA6100半导体参数分析仪具有高精度、宽测量范围、 快速灵活、兼容性强等优势,产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试。基于模块化
2024-06-05 10:40 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号