半导体热特性试验系统ST-PCX基础能力试验对象各种封装的Diode、BJT、MOS-FET、SCR、IGBT、IPM等试验能力功率循环秒级/PCsec 
2024-08-02 16:28 陕西天士立科技有限公司 企业号
电容-电压(C-V)测量广泛用于测量半导体参数,尤其是MOS CAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压的函数,MOS电容随外加电压变化的曲线称之为C-V曲线(简称
2024-06-05 11:16 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号
半导体热特性热阻抗测试仪系统_陕西天士立科技研发生产_平替T3Ster_Phase11热特性测试仪。产品符合JESD 51-1、JESD 51-14标准,用
2024-08-01 14:40 陕西天士立科技有限公司 企业号
NTC热敏电阻器: MF72 系列产品为径向引线树脂涂装型。其特点为:体积小、功率大,抑制浪涌电流能力强,反应速度快,材料常数(B 值)大,残余电阻小,寿命长、可靠性高,产品规格齐全,工作范围宽。
2022-08-01 18:36 深圳市绍鑫电子有限公司 企业号