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型号：ST-PCX 品牌：

   半导体热特性试验系统ST-PCX基础能力试验对象各种封装的Diode、BJT、MOS-FET、SCR、IGBT、IPM等试验能力功率循环秒级/PCsec 

2024-08-02 16:28 陕西天士立科技有限公司 企业号

型号：华太<b class='flag-s-7'>半导体</b> 品牌：

咨询请看首页华太半导体（HOTTEK-SEMI）是一家专业电容式触控方案设计公司，拥有专业软件研发团队。HOTTEK-SEMI推出的新一代触摸MCU性能卓越：可多次重复编程（MTP），防水，抗干扰强

2025-05-20 16:11 华太半导体（深圳）有限公司 企业号

型号：WD4000 品牌：中图仪器

WD4000半导体无图晶圆形貌检测设备集成厚度测量模组和三维形貌 、粗糙度测量模组，非接触厚度 、三维维纳形貌一体测量。

2024-05-10 10:07 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

中图仪器WD4000半导体晶圆粗糙度表面形貌测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶

2024-06-26 10:31 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

中图仪器WD4000半导体无图晶圆粗糙度测量系统提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。其中粗糙

2024-10-31 10:41 中图仪器 企业号

型号：NS200 品牌：中图仪器

中图仪器NS系列半导体台阶高度测量仪器是一款专为高精度微观形貌测量设计的超精密接触式仪器，广泛应用于半导体、光伏、MEMS、光学加工等领域。通过2μm金刚石探针与LVD

2025-03-31 15:08 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

中图仪器WD4000半导体无图晶圆Wafer厚度测量系统自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、

2024-08-09 15:07 中图仪器 企业号

型号：ST-HeatX 品牌：

 半导体热特性热阻抗测试仪系统_陕西天士立科技研发生产_平替T3Ster_Phase11热特性测试仪。产品符合JESD 51-1、JESD 51-14标准，用于DIODE、IGBT

2024-08-01 14:40 陕西天士立科技有限公司 企业号

型号：WD4000 品牌：中图仪器

中图仪器WD4000半导体晶圆wafer厚度测量设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效

2024-09-06 16:52 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

WD4000系列半导体晶圆厚度高精度测量系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效

2024-07-31 14:28 中图仪器 企业号